"Reduction of appearance artifacts in wearableon- skin electronics"
Y. Liu, S. Ito, T. Kato, L. Wang, Y. Zhu, S. D. Mulatier, H. Arao, S. Suwazono, H. Asano, Y. Zhou, H. Mitomo, H. Gong, O. Nomura, G. Kagawa, N. Watanabe, M. H. Behfar, Y. Kuroiwa, T. Tatsuma, Y. Sugano, H. Takahashi, M. Asai, J. Kang, N. Matsuhisa, Science Advances, 2026,